Αρχική Σελίδα
Νέα
Μετάφραση
Πρότζεκτ
Φόρουμ
Βοήθεια
Μέλη
Σύνδεση
Εγγραφή
. .
•Προφίλ
kazandibi00
▪▪Όλες οι μεταφράσεις
•Ζητούμενες μεταφράσεις
•
Αγαπημένες μεταφράσεις
•Κατάλογος Πρότζεκτ
•Εισερχόμενα
▪Free language exchange
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
▪▪Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
•Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Όλες οι μεταφράσεις
Αναζήτηση
Όλες οι μεταφράσεις - kazandibi00
Αναζήτηση
Γλώσσα πηγής
Γλώσσα προορισμού
Αποτελέσματα 1 - 2 από περίπου 2
1
411
Γλώσσα πηγής
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Ολοκληρωμένες μεταφράσεις
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1